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zeta電位儀納米粒度的測定要求及測試方法

更新時間:2022-04-29   點擊次數(shù):2584次
   提到zeta電位儀,我們需要先了解一下zeta電位,Zeta 電位基礎理論的創(chuàng)立者是波蘭科學家斯莫魯霍夫斯基(Smoluchowski)zeta電位是帶電顆粒周圍的溶液中將富集帶相反符號的離子(即反離子),其中一部分反離子與顆粒表面緊密結(jié)合,構(gòu)成固定吸附層,又稱Stern層;另一部分反離子由于靜電吸引和熱擴散兩種相反作用的平衡,分布在顆粒周圍溶液中,構(gòu)成擴散層.位于Stern層的反離子由于強大靜電吸引聚集在顆粒表面而Stern層外的離子由于靜電吸引較弱,形成了擴散層。兩層之間的邊界被定義為滑動層或剪切層。顆粒做電泳運動時,會帶著固定吸附層和部分溶劑分子一起移動,與液體之間形成滑動面,定義滑動面與液體內(nèi)部的電位差為zeta電位儀。

  zeta電位儀納米粒度的測定要求
  1、實驗室提供的樣品池測量溫度不可高于70度;
  2、測量粒徑前,需查知樣品分散劑的粘度、折光指數(shù)、介電常數(shù);
  3、如發(fā)現(xiàn)電極變黑,需更換;
  4、用卷紙輕輕點拭樣品池外側(cè)水滴,尤其是兩個塞子外側(cè);
  5、一定要去除樣品池內(nèi)的氣泡,尤其是電極上氣泡;
  6、實驗室提供的樣品池為聚苯乙烯材質(zhì),不可用于測量有機分散體系;
  7、使用濾紙過濾時,舍去過濾后的第一滴樣品,以防濾紙上雜質(zhì)進入樣品池;
  8、在Zeta電位分析儀測量時需自帶:卷紙、多個注射器(5ml)、多個離心管(用于稀釋樣品)使用使用光盤;
  測試方法
  1、點擊圖標,啟動Zetasizer軟件
  2、點擊軟件中 File – New - Measurement file,創(chuàng)建此次測試文件,一經(jīng)創(chuàng)建,本次測試的結(jié)果均自動保存在此文件中,無需另行保存。
  制備樣品
  3、將制備的樣品注入樣品池,粒徑分布需1.0 ml—1.5 ml,Zeta點位測量至少需要1.0 ml。
  
  4、{0>點擊Start,即進行測量。
  5、使用光盤拷取數(shù)據(jù)。

納米粒度及zeta電位儀

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